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原位拉伸冷熱臺 JK-LS500采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現(xiàn)-190~600℃溫度下材料的動態(tài)應(yīng)力應(yīng)變特性測試，可與顯微分析、電學(xué)分析相結(jié)合。原位拉伸冷熱...

JKZC-UTS150微型冷熱腔是一種適配μTS拉伸臺的產(chǎn)品，包含拉伸、壓縮、三點彎模塊。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現(xiàn)-100~50℃ (高溫以實際數(shù)...

探針熱臺JK-600S是一款針對研究樣品變溫電學(xué)性能測試而設(shè)計的產(chǎn)品，可表征樣品電學(xué)性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用電阻加熱的方式，實現(xiàn)RT~600℃范圍內(nèi)精準(zhǔn)控...

探針冷熱臺JK-600C是一款針對研究樣品變溫電學(xué)性能測試而設(shè)計的產(chǎn)品，可表征樣品電學(xué)性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現(xiàn)-190~60...

半導(dǎo)體冷熱臺JK-120BPE、BPE100采用半導(dǎo)體冷熱控制，配合循環(huán)水散熱，實現(xiàn)從-25~120℃（選型）的控溫。無需液氮等致冷劑，具有無噪聲、無振動等特點...

半導(dǎo)體冷熱臺JK-120BCH采用半導(dǎo)體致冷，配合低溫循環(huán)液，實現(xiàn)從-40到180℃（選型）的控溫。

JK-150BPE型半導(dǎo)體冷熱臺又稱帕爾貼冷熱臺，利用半導(dǎo)體的熱-電效應(yīng)制冷，配合循環(huán)水散熱，在 -30~150℃的溫度范圍內(nèi)進行控溫，實現(xiàn)樣品在開放式 / 氣...

Instruments拉伸機冷熱臺拉伸機冷熱臺是一種安裝在萬能試驗機上研究樣品在變溫條件下進行應(yīng)力應(yīng)變測試的產(chǎn)品。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現(xiàn)-190...

光學(xué)熱臺JK-GH600S是一款針對研究樣品變溫光學(xué)性能測試而設(shè)計的產(chǎn)品，可表征樣品光學(xué)性能隨溫度變化的特征。

光學(xué)冷熱臺JK-GH600-190是一款針對研究樣品變溫光學(xué)性能測試而設(shè)計的產(chǎn)品，可表征樣品光學(xué)性能隨溫度變化的特征。

光學(xué)冷熱臺是一款針對研究樣品變溫光學(xué)性能測試而設(shè)計的產(chǎn)品，可表征樣品光學(xué)性能隨溫度變化的特征。

-190~400℃納米級控制精度探針電動控制結(jié)構(gòu)緊湊 適用真空環(huán)境詳細(xì)參數(shù)

探針冷熱臺是一款針對研究樣品變溫電學(xué)性能測試而設(shè)計的產(chǎn)品，可表征樣品電學(xué)性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現(xiàn)-190~600℃（選型）或...

JK-600CH190P4D型外部調(diào)節(jié)探針冷熱臺

JKGX-190型光學(xué)測試?yán)錈崤_采用液氮制冷和電熱絲加熱方式，可以在-190℃~600℃范圍內(nèi)進行溫度和環(huán)境控制，搭配其他儀表進行電學(xué)、光學(xué)等測試。

JK-XRD原位冷熱臺是一種安裝在X-射線衍射儀上研究樣品變溫X-射線衍射的附件。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，提供-190~600℃（選型）或RT~100...

冷熱臺是一種在掃描電子顯微鏡（SEM）標(biāo)準(zhǔn)樣品臺上（無需改造電鏡內(nèi)部），提供樣品原位變溫測試的電鏡附件。通過外接法蘭裝置實現(xiàn)對冷熱臺上的樣品進行控溫，穩(wěn)定后溫控...

JK-SEM1900原位拉伸冷熱臺是在SEM(掃描電子顯微鏡)下的一款研究樣品在變溫條件下進行應(yīng)力應(yīng)變測試的產(chǎn)品。

JK-CGLS190原位拉伸冷熱臺是一款研究樣品在變溫條件下進行應(yīng)力應(yīng)變測試的產(chǎn)品。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現(xiàn)-190~600℃（選型）或RT~10...

JK-LSJ1900T拉伸機冷熱臺是一種安裝在萬能試驗機上研究樣品在變溫條件下進行應(yīng)力應(yīng)變測試的產(chǎn)品。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現(xiàn)-190~600℃（...